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本技术公开了一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，包括箱体、焊接组件和厚度检测组件，所述箱体的外侧设置有第一辊轴，且第一辊轴的右侧设置有清洁组件，所述清洁组件包括第一清洁辊、第二清洁辊和毛刷，且所述第一清洁辊的下方设置有第二清洁辊，所述第一清洁辊...
该专利属于上海天新纳米技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海天新纳米技术有限公司授权不得商用。

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