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提供了一种光检测装置，其能够防止成像特性水平的降低。第二配线层形成在第二半导体基板的内部。在第二配线层中包括第一配线(配线)和第二配线(配线)，其中，第一配线和第二配线与第二半导体基板的背面(第一面)平行地延伸。此外，在第二配线层中包括使第...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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