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本发明提供了一种基于子电路的老化模型建模方法、电子设备及存储介质，所述方法包括以下步骤：声明老化模型并绑定到基础器件模型；声明老化模型需要绑定的子电路信息；遍历已绑定老化模型的基础器件，将所述子电路信息绑定到基础器件上；在每一次仿真收敛点中...
该专利属于深圳华大九天科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳华大九天科技有限公司授权不得商用。

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