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本发明公开了一种舰载电子设备可靠性加速试验方法、系统及介质，其方法包括以下步骤：调整热循环试验剖面中的试验应力条件，再基于时变Peck模型加速缩短热循环试验剖面中的热试验时间，并将预设次数冷循环试验剖面与时间缩短后的预设次数热循环试验剖面构...该专利属于华中光电技术研究所（中国船舶集团有限公司第七一七研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过华中光电技术研究所（中国船舶集团有限公司第七一七研究所）授权不得商用。