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本发明提供一种三维表面形貌测量方法及系统，所述方法包括：将预设的一组相移条纹图案的结构光依次投射到垂直扫描的待测物体表面，以获取一组携带物体高度信息的捕获图像；通过提取一组捕获图像中任一像素位置的强度值，获得所述任一像素位置在垂直扫描过程中...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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