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本披露公开了一种用于测试电子器件模型精度的方法及相关产品。其中，所述方法包括：获取关于待测试的电子器件模型的测试配置文件；根据所述测试配置文件，生成目标可执行文件；以及基于所述目标可执行文件进行精度仿真测试，以完成针对所述电子器件模型的精度...
该专利属于上海概伦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海概伦电子股份有限公司授权不得商用。

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