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本申请涉及一种晶圆边框检测方法、装置、设备及存储介质，应用在工业检测优化领域，其中方法包括：获取晶圆图片，识别晶圆图片中的目标晶圆和目标晶圆对应的目标框；识别目标晶圆中的缺陷，将缺陷所在区域的灰度值归零；计算目标晶圆所在区域的第一平均灰度值...
该专利属于深存科技（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深存科技（无锡）有限公司授权不得商用。

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