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本申请案涉及mBIST操作期间的基于温度的错误屏蔽。描述与自测试结果的屏蔽相关的方法、设备及系统。存储器装置可包含自测试电路，所述自测试电路经配置以在所述存储器装置的温度超过温度阈值时选择性地暂停从自测试的一或多个部分收集测试结果。...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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