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本发明提供了一种基于融合模型的微波组件质量管控方法、设备及存储介质。应用于电子制造及测试技术领域，所述方法包括：基于微波组件物理模型、参数化降阶数据模型、基学习器，采用集成学习法，构建混合模型；基于微波组件生产过程的非结构化文本数据，利用知...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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