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本发明提出了一种在不同波长条件下ＬＥＤ漏电流的测试方法，该方法在恒温条件下，将待测ＬＥＤ接入ＴＬＰ测试系统，通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用，实现对其漏电流的检测。为提高测试精度，排除不同形状、不同位置光源的影响，在本发明的一个实施例中...
该专利属于上海北京大学微电子研究院所有，仅供学习研究参考，未经过上海北京大学微电子研究院授权不得商用。

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