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不同波长下发光二极管漏电流测试方法技术
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文档序号:4099963
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本发明提出了一种在不同波长条件下LED漏电流的测试方法,该方法在恒温条件下,将待测LED接入TLP测试系统,通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用,实现对其漏电流的检测。为提高测试精度,排除不同形状、不同位置光源的影响,在本发明的一个实施例中...
该专利属于上海北京大学微电子研究院所有,仅供学习研究参考,未经过上海北京大学微电子研究院授权不得商用。
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