温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开的一种晶粒坐标排序方法及系统，所述方法包括以下步骤：按照预设的折返式扫描轨迹扫描整待测料片，进行图像采集，得到一系列局部含小料的拍摄图像；并将采集到的拍摄图像进行分发；根据预设模板，对图片进行定位小料和缺陷检测，然后根据缺陷检测结...
该专利属于视睿（杭州）信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过视睿（杭州）信息科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。