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本技术涉及测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置，所述芯片测试装置包括主机板、从机板、可变端口转接板、端口转换电路板及被测芯片电路板，所述主机板通过柔性电路板连接于所述从机板及所述可变端口转接板，所述可变端口转接板通过柔性电路板连接于所述从...
该专利属于上海晟矽微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海晟矽微电子股份有限公司授权不得商用。

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