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本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装...
该专利属于季华实验室所有，仅供学习研究参考，未经过季华实验室授权不得商用。

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