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本申请公开了一种数据校验方法及装置、非易失性存储介质、电子设备。其中，该方法包括：获取编码数据；得到目标数据分片以及目标校验分片；通过第一矩阵中数据的值以及在目标存储单元中读取到的目标数据分片中的k个第一校验和，确定m个第一目标校验和，并通...
该专利属于云和恩墨（北京）信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过云和恩墨（北京）信息技术有限公司授权不得商用。

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