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本发明提出一种有源频率选择表面分析方法及系统，通过构建有源频率选择表面等效电路模型、确定等效电路参数与结构参数之间的关系、确定等效电路参数和传输/反射特性之间的关系、确定结构参数、等效电路参数和传输/反射特性三者之间的关系、根据传输/反射性...
该专利属于北京机电工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京机电工程研究所授权不得商用。

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