温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种多层介质的介电常数提取方法，包括以下步骤：通过测量装置测量当前i层介质的i层透射系数S21(1‑i)和i层反射系数S11(1‑i)，同时获取第i层介质层的厚度；根据第i层介质层的平面电磁波穿过第i层介质层的相位差与特征矩阵计...该专利属于惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司授权不得商用。
温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种多层介质的介电常数提取方法，包括以下步骤：通过测量装置测量当前i层介质的i层透射系数S21(1‑i)和i层反射系数S11(1‑i)，同时获取第i层介质层的厚度；根据第i层介质层的平面电磁波穿过第i层介质层的相位差与特征矩阵计...