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本申请公开了一种多路选择器的测试方法、装置、设备以及存储介质，涉及集成电路技术领域。包括：获取第一测试配置文件；根据通路配置参数，对输出端口与每个输入端口之间的逻辑电路进行配置，并根据第一端口选择参数，选通第一输入端口；对第一输入端口与输出...
该专利属于深圳市紫光同创电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市紫光同创电子有限公司授权不得商用。

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