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本技术是一种复合式形位公差测量仪，包括装配台体结构以及设在装配台体结构上部的多维度千分表测量结构，所述的装配台体结构包括安装检测台、驱动结构、卡盘连接结构、工件四爪卡盘、控制器结构、定位支脚结构以及控制器，所述的多维度千分表测量结构包括垂直...
该专利属于陈冲锋所有，仅供学习研究参考，未经过陈冲锋授权不得商用。

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