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本发明属于应力测量技术领域，公开了一种FPGA电路老化应力的综合表示方法及系统，对测量得到的逻辑资源占空比SP和翻转率SA老化应力数据，进行数据预处理，分别得到可用于综合表示的SP<subgt;prop</subgt;和SA&l...
该专利属于电子科技大学长三角研究院（湖州）所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学长三角研究院（湖州）授权不得商用。

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