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本发明提供了一种空间目标电磁辐射特征处理方法及系统，包括：获取空间目标窄带雷达回波弧段测量数据；根据所述测量数据进行RCS特征提取；对所述RCS特征进行RCS特征分析；根据RCS特征分析结果进行RCS特征识别，判断目标状态是否异常，若是，则...
该专利属于上海卫星工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海卫星工程研究所授权不得商用。

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