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一种可变偏压的MEMS陀螺模块化在片测试系统技术方案
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下载一种可变偏压的MEMS陀螺模块化在片测试系统的技术资料
文档序号:40918410
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本发明公开了一种可变偏压的MEMS陀螺模块化在片测试系统,包括:无源针卡,连接晶圆级MEMS陀螺的各组梳齿电极与质量块电极,并与有源测控模块相连;数据采集卡,通过时序控制,输出控制电平、白噪声激励信号、直流偏置电压信号,以控制开环阻容测试模...
该专利属于南京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京理工大学授权不得商用。
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