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本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备、存储介质。芯片测试机包括主背板以及若干个从背板，主背板包括高精度时钟芯片以及第一可编程逻辑芯片，方法包括：响应于进行时钟同步处理的指令，配置并发送预设频率的低...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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