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本发明属于天线环境效应参数测试领域，具体涉及一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法。所述方法通过对标准校准天线有、无保温透波罩下的两组多维矢量数据测量，获取基础校准数据；通过对基础校准数据的矢量运算，得到透波罩插损补偿因子S<su...
该专利属于中电科思仪科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科思仪科技股份有限公司授权不得商用。

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