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本发明公开了一种混合搜索算法优化BP神经网络的多芯片故障诊断方法，包括：建立每个待检测芯片中各管脚的伏安特性曲线；基于伏安特性曲线，提取各管脚的特征值，并构建待检测芯片的故障模型；利用Logistic‑Sine‑Cosine混沌映射初始化麻...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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