专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
慧与发展有限责任合伙企业
>
检测和响应环境条件引起的对半导体封装件的安全攻击制造技术
>技术资料下载
下载检测和响应环境条件引起的对半导体封装件的安全攻击的技术资料
文档序号:40868637
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本公开涉及检测和响应环境条件引起的对半导体封装件的安全攻击。一种方法包括由半导体封装件的金丝雀电路生成输出值。所述半导体封装件包括用于电子系统的硬件信任根引擎。所述方法包括由所述金丝雀电路将所述输出值与预期值进行比较。所述方法包括响应于比较...
该专利属于慧与发展有限责任合伙企业所有,仅供学习研究参考,未经过慧与发展有限责任合伙企业授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。