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本申请提供的多尺度表征聚合物基热界面材料的老化方法、装置、设备及存储介质，测试老化前后的聚合物基热界面材料的宏观性能；测试老化前后的聚合物基热界面材料的宽频介电谱；根据所述宏观性能和所述宽频介电谱表征所述聚合物基热界面材料的老化程度，本申请...
该专利属于深圳先进电子材料国际创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进电子材料国际创新研究院授权不得商用。

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