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本发明提供一种集成电路测试中的测试数据压缩方法，采用存储原始测试数据的规律，测试应用时，再将该规律还原得到所要的原始测试数据。即将整个原始测试数据的存储变换成对一个或若干个对应的无理数来存储。具体步骤为：采用自动测试模式生成工具生成确定的完...
该专利属于詹文法所有，仅供学习研究参考，未经过詹文法授权不得商用。

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