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本发明公开一种X射线荧光光谱多能态样本叠加方法及系统，属于光学与光谱学技术领域。该方法首先采用蒙特卡罗方法多次仿真X射线荧光光谱分析过程，得到多级能态光谱图，然后采用极值法确定多级能态光谱图中每一个道址的极大值点，并将所有道址的极大值点拼接...
该专利属于北京邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京邮电大学授权不得商用。

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