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本发明公开了一种基于物联网的控制芯片自动化数据处理系统及方法，属于数据处理技术领域。本发明包括：S10：数据分析终端根据接收的实时测试数据对控制芯片的功能缺陷位置进行确定；S20：对控制芯片在各功能缺陷位置的实时测试数据进行自动关联，根据自...
该专利属于上海源斌电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海源斌电子科技有限公司授权不得商用。

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