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本发明的目的在于提供一种基于圆柱凹型腔的面外复介电常数测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本装置包括圆柱凹型腔，其靠近电容端侧壁对称设有两个矩形孔，用于放置待测样品；电容端设贯穿其底壁的缝隙，通过缝隙减少底壁与待测样品之间的气隙；除此之外...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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