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本发明公开了一种基于线扫描的集料形态与粒径连续分析装置及方法，涉及集料的形态与粒径分析领域。包括设置于集料输送台上端的支撑机构，支撑机构上方设置有输送机构，且在输送机构进料端上方设置有入料机构，出料端设置有拍摄机构；入料机构包括入料斗和料斗...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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