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一种芯片测试数据的处理方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸
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文档序号:40771152
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本申请提供了一种芯片测试数据的处理方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:从Clickhouse服务端,获取待处理芯片测试数据的计算结果的分布式文件系统存储路径和Clickhouse数据库节点;将待处理芯片测试数据、分布式文件系统存储路径和...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。
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