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本发明涉及光伏硅片检测技术领域，它涉及一种硅片参数检测方法及装置，检测方法包括以下步骤：设置参考组，参考组具有第一参考点和第二参考点，第一参考点与第二参考点相对；将硅片上的线区域从参考组的第一参考点和第二参考点之间穿过；获取第一参考点与线区...
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