专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
中国科学院电工研究所
>
一种PGC-Atan解调法中相位调制深度提取与校正及非线性影响因素消除方法及系统技术方案
>技术资料下载
下载一种PGC-Atan解调法中相位调制深度提取与校正及非线性影响因素消除方法及系统的技术资料
文档序号:40747135
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种PGC‑Atan解调法中相位调制深度提取与校正及非线性影响因素消除方法及系统。光源调制模块产生高频载波被高频载波与待测信号调制后的干涉信号经处理变为电信号,并分别与载波一倍频正弦信号、载波一倍频余弦信号和载波二倍频余弦信号混乘...
该专利属于中国科学院电工研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院电工研究所授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。