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本技术提供一种制冷探测器自动测试设备，涉及探测器测试技术领域，包括黑体安装结构、探测器工装装配结构和工控机，黑体安装结构与探测器工装装配结构沿x向平行设置；黑体安装结构设置有黑体，且设于平移框架上；探测器工装装配结构对应黑体安装结构各行的高...
该专利属于北京清大天达光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京清大天达光电科技股份有限公司授权不得商用。

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