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本发明公开了一种半导体测序芯片的数据读取方法和半导体测序芯片的数据读取系统。半导体测序芯片的数据读取方法包括：控制半导体测序芯片浸入试剂中；在每浸入至少一个核心行时，读取至少一次半导体测序芯片输出的数据，直至将半导体测序芯片的所有核心行浸入...
该专利属于青岛华大智造科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛华大智造科技有限责任公司授权不得商用。

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