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本发明公开了一种结构简单、成本低且使用方便的一种基于激光测量的缺陷检测方法，获取检测装置，所述装置包括激光器、第一柱透镜单元、第二柱透镜单元、标记单元、运算单元、光电探头、产品传送带；使用所述第一柱透镜单元，将所述激光器发出的点光转化为线光...
该专利属于杭州电子科技大学技术转移有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学技术转移有限公司授权不得商用。

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