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本发明提供一种芯片测试设备及方法、通讯设备、计算机存储介质和芯片模组，所述芯片测试设备具有多个测试模块和多个测试位，每一所述测试位均与所有所述测试模块相连，每一测试位用于与一芯片相连，每一测试模块在测试时依次与每一测试位连通，以依次对每一测...
该专利属于展讯通信（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展讯通信（上海）有限公司授权不得商用。

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