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本申请涉及半导体器件的领域，公开了可切换保护时间的Desat保护电路及器件的测试方法，其中可切换保护时间的Desat保护电路包括用于导通或关断待测功率半导体器件的驱动单元、用于切换预设保护时间的时间切换单元和用于监测待测功率半导体器件两端的...
该专利属于忱芯科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过忱芯科技（上海）有限公司授权不得商用。

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