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用于SI波束失败测量和指示的经配置的时间间隙制造技术
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下载用于SI波束失败测量和指示的经配置的时间间隙的技术资料
文档序号:40701752
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基站可以识别与FD波束对质量测量相关联的一个或多个时间间隙段的配置。基站可以向UE发送对与FD波束对质量测量相关联的一个或多个时间间隙段的配置的指示,并且UE可以从基站接收该指示。UE可以在一个或多个时间间隙段期间执行对一个或多个FD波束对...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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