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一种电离层延迟值的拟合方法技术
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文档序号:40701600
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本申请公开了一种电离层延迟值的拟合方法,包括获取电离层掩码电文并提取针对现有格网的格网带编号和格网点掩码;基于电离层掩码电文中的格网点掩码和均匀格网列表中相应位存储的二进制数确定掩码列表中该格网点的掩码标记是否有效;获取电离层延迟电文并提取...
该专利属于北京凯芯微科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京凯芯微科技有限公司授权不得商用。
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