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光学测量用余弦光强分布物理结构光栅的设计与制作方法技术
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文档序号:4067631
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光学测量用余弦光强分布物理结构光栅的设计与制作方法,属于机械工程和光学测量技术领域。本发明按照测量要求,设计光栅的尺寸大小,建立光栅尺寸与图像之间的对应关系,利用MATLAB软件设计9幅满足三频三步相移编码方案的灰度图,并使用抖动函数dit...
该专利属于上海交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海交通大学授权不得商用。
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