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本发明提供一种基于TDI技术的卷绕电芯的缺陷检测系统，包括电芯overhang检测平台、电芯极片检测平台和运动平台；所述运动平台的上表面放置卷绕电芯，所述卷绕电芯在所述运动平台上运动，并经过所述电芯overhang检测平台和所述电芯极片检测...
该专利属于上海奕瑞光电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海奕瑞光电子科技股份有限公司授权不得商用。

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