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本发明涉及一种内存条测试方法、装置、电子设备及介质，包括根据预设的第一频率范围，对多个内存条进行超频测试，获得第一批次内存条；在第一频率范围内根据预设的性能指数，对第一批次内存条进行性能测试，获得第二批次内存条；在第一频率范围内根据预设的兼...
该专利属于深圳市金泰克半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金泰克半导体有限公司授权不得商用。

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