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本发明提供一种微控制器功能模块安全机制的自检电路及自检方法，所述微控制器功能模块安全机制的自检电路包括相并联的功能模块、冗余模块、错误注入模块以及与所述功能模块、所述冗余模块、所述错误注入模块均分别相连的检测模块；所述错误注入模块仅包括第一...
该专利属于苏州旗芯微半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州旗芯微半导体有限公司授权不得商用。

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