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本技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种托盘振动装置及其测试设备。一种托盘振动装置，包括：托盘，具有用于承载料盘的容置区；撞击座，安装于托盘背向容置区的一侧；撞击头，安装于托盘背向容置区的一侧，并能够沿第一方向击打撞击座；以及动力组件，与撞击...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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