下载SE芯片的测试方法、装置、电子设备及介质的技术资料

文档序号:40607132

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本发明提供了一种SE芯片的测试方法、装置、电子设备及介质,包括:获取待测试芯片的厂商信息和型号以及SE芯片执行脚本;基于预先确定的通信方式自动匹配待测试芯片的通信方式;如果待测试芯片的通信方式匹配成功,则基于待测试芯片的厂商信息和预先确定的...
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