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本申请提供一种基于JTAG的通用可扩展调试装置、方法、芯片及开发系统，所述装置包括：JTAG模块，提供所述装置对外的第一组JTAG信号端口；信号生成模块，与所述JTAG模块通信连接，提供所述装置对外扩展出的第二组JTAG信号端口；所述信号生...
该专利属于合芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合芯科技有限公司授权不得商用。

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