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本发明属于光学检测技术领域，本发明提供了一种基于深度学习的AOI检测方法与系统，包括：获得AO I系统中记录的检测数据，获得不良率参数，以及实际不良率参数，获得AOI系统的检测误判率，构建关于产品缺陷类型的分布折线图，计算AOI系统的整体误...
该专利属于惠州学院所有，仅供学习研究参考，未经过惠州学院授权不得商用。

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