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本申请涉及一种仿真加速方法、装置、设备及存储介质，应用在芯片设计技术领域，包括获取DUT模块；根据预设的方法搭建双顶层验证环境，所述双顶层验证环境包括综合BFM模块、芯片验证文件和测试数据，所述综合BFM模块包括状态机跳转标志位；将所述测试...
该专利属于无锡亚科鸿禹电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡亚科鸿禹电子有限公司授权不得商用。

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